产品简介
epk涂层测厚仪|epk镀层测厚仪|epk膜厚仪|epk漆膜测厚仪
epk涂层测厚仪|epk镀层测厚仪|epk膜厚仪|epk漆膜测厚仪
产品价格:¥28000
上架日期:2012-11-02 07:58:17
产地:德国
发货地:上海
供应数量:不限
最少起订:1套
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详细说明
    德国EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂镀层测厚仪特点:
    MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理功能;
    所有型号均可配所有探头;
    可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机;
    可使用一片或二片标准箔校准。
    www.dingzhi18.com
    涂层测厚仪MiniTest1100

    MiniTest1100/2100/3100/4100涂层测厚仪功能
    型号
    1100
    2100
    3100
    4100
    MINITEST 存储的数据量
    应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数)
    1
    1
    10
    99
    每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计,可设宽容度极限值)
    -
    1
    10
    99
    可用各自的日期和时间标识特性的组数
    -
    1
    500
    500
    数据总量
    1
    10000
    10000
    10000
    MINITEST统计计算功能
    读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar
    -
    读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
    -
    -
    组统计值六种x,s,n,max,min,kvar
    -
    -
    组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
    -
    -
    存储显示每一个应用行下的所有组内数据
    -
    -
    -
    分组打印以上显示和存储的数据和统计值
    -
    -
    显示并打印测量值、打印的日期和时间
    -
    其他功能
    透过涂层进行校准(CTC)
    -
    在粗糙表面上作平均零校准
    利用计算机进行基础校准
    补偿一个常数(Offset)
    -
    -
    外设的读值传输存储功能
    -
    保护并锁定校准设置
    更换电池是存储数值
    设置极限值
    -
    -
    公英制转换
    连续测量模式快速测量,通过模拟柱识别最大最小值
    -
    -
    连续测量模式中测量稳定后显示读数
    -
    -
    浮点和定点方式数据传送
    组内单值延迟显示
    -
    连续测量模式中显示最小值

    可选探头参数(探头图示)
    所有探头都可配合任一主机使用。在选择最适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
    F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层
    N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层
    FN两用探头:同时具备F型和N性探头的功能
    探头
    量程
    低端
    分辨率
    误差
    最小曲率
    半径(凸/凹)
    最小测量
    区域直径
    最小基
    体厚度
    探头尺寸



    F05
    0-500μm
    0.1μm
    ±(1%±0.7μm)
    1/5mm
    3mm
    0.2mm
    φ15x62mm
    F1.6
    0-1600μm
    0.1μm
    ±(1%±1μm)
    1.5/10mm
    5mm
    0.5mm
    φ15x62mm
    F1.6/90
    0-1600μm
    0.1μm
    ±(1%±1μm)
    平面/6mm
    5mm
    0.5mm
    φ8x170mm
    F3
    0-3000μm
    0.2μm
    ±(1%±1μm)
    1.5/10mm
    5mm
    0.5mm
    φ15x62mm
    F10
    0-10mm
    5μm
    ±(1%±10μm)
    5/16mm
    20mm
    1mm
    φ25x46mm
    F20
    0-20mm
    10μm
    ±(1%±10μm)
    10/30mm
    40mm
    2mm
    φ40x66mm
    F50
    0-50mm
    10μm
    ±(3%±50μm)
    50/200mm
    300mm
    2mm
    φ45x70mm


    FN1.6
    0-1600μm
    0.1μm
    ±(1%±1μm)
    1.5/10mm
    5mm
    F0.5mm
    N50μm
    φ15x62mm
    FN1.6P
    0-1600μm
    0.1μm
    ±(1%±1μm)
    平面
    30mm
    F0.5mm
    N50μm
    φ21x89mm
    FN2
    0-2000μm
    0.2μm
    ±(1%±1μm)
    1.5/10mm
    5mm
    F0.5mm
    N50μm
    φ15x62mm



    N02
    0-200μm
    0.1μm
    ±(1%±0.5μm)
    1/10mm
    2mm
    50μm
    φ16x70mm
    N.08Cr
    0-80μm
    0.1μm
    ±(1%±1μm)
    2.5mm
    2mm
    100μm
    φ15x62mm
    N1.6
    0-1600μm
    0.1μm
    ±(1%±1μm)
    1.5/10mm
    2mm
    50μm
    φ15x62mm
    N1.6/90
    0-1600μm
    0.1μm
    ±(1%±1μm)
    平面/10mm
    5mm
    50μm
    φ13x170mm
    N10
    0-10mm
    10μm
    ±(1%±25μm)
    25/100mm
    50mm
    50μm
    φ60x50mm
    N20
    0-20mm
    10μm
    ±(1%±50μm)
    25/100mm
    70mm
    50μm
    φ65x75mm
    N100
    0-100mm
    100μm
    ±(1%±0.3mm)
    100mm/平面
    200mm
    50μm
    φ126x155mm
    CN02
    10-200μm
    0.2μm
    ±(1%±1μm)
    平面
    7mm
    无限制
    φ17x80mm
    注: F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头,用于管内测量。
    N.08Cr适合铜上铬,FN2也适合铜上铬。
    CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。

    探头图示
    FN1.6
    0~1600μm,φ5mm
    两用测头,可测铜铁基体上的非磁性覆层与有色金属 基体上的绝缘覆层
    量程低端分辨率很高(0.1μm)

    FN1.6P
    0~1600μm,φ30mm
    两用测头, 特别适合测粉末状的覆层厚度


    F05
    0~500μm,φ3mm
    磁性测头,适于测量细小钢铁物体的薄覆层,如金属镀层,氧化层等
    量程低端分辨宰很高(0.1μm)

    F1.6
    0~1600μm,φ5mm
    磁性测头
    量程低端分辨率很高(0.1μm)

    F3
    0~3000μm,φ5mm
    磁性测头
    可用于较厚的覆层

    F1.6/90
    0~1600μm,φ5mm
    90度磁性测头
    尤其适合于在管内壁测量
    量程低端分辨率很高(0.1μm)

    F10
    0~10mm,φ20mm
    适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层,如玻璃、塑胶、混凝土等


    F20
    0~20mm,φ40mm
    适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层,如玻璃、塑胶、混凝土等

    F50
    0~50mm,φ300mm
    适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层的隔音覆层

    N02
    0~200μm,φ2mm
    非磁性测头,尤其适合测量有色金属基体上的氧化层等很薄的绝缘覆层
    量程低端分辨率很高(0.1μm)

    N0.8Cr
    0~80μm,φ2mm
    适用于测量铜、铝、黄铜上的极薄镀铬层

    N1.6
    0~1600μm,φ2mm
    非磁性测头,适于测量有色金属基体上的较薄的绝缘覆层
    量程低端分辨率很高(0.1μm)

    N1.6/90
    0~1600μm,φ5mm
    磁性测头,适于测量较薄的绝缘覆层
    尤其适合在管内壁测量
    量程低端分辨率很高(0.1μm)

    N10
    0~10mm,φ50mm
    非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等

    N20
    0~20mm,φ70mm
    非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等

    N100
    0~100mm,200mm
    非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等
    CN02
    10~200μm,φ7mm
    用于测量绝缘材料上的有色金属覆层,如覆铜板
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