KETT凯特测厚仪/膜厚计LE-373

KETT凯特测厚仪/膜厚计LE-373

KETT凯特测厚仪/膜厚计LE-373

测量方式电磁感应式

测定对象磁性体上非磁性覆膜

测量范围0～2500μm

测量精度50μm以下：±1μm、50μm以上1000μm以下：±2%、1000μm以上：±3%

分辨率100μm以下：0.1μm、100μm以上：1μm

符合规格JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401/ISO2808、ISO2064、ISO1460、ISO2178、ISO19840/BS3900-C5/ASTM B499、ASTM D7091-5、ASTM E376

数据存储器数约39000点

校准线存储器应用程序存储器：存储100条校准线

探针一点接触定压式（LEP-J）

显示方法数字（带背光的LCD、最小显示位0.1μm）

外部输出电脑（USB或RS-232C）

电源电池1.5V（单3碱）×4

功耗80mW（背光不亮时）

电池寿命100小时（背光不亮时，连续使用）

使用温度范围0～40℃

附加功能各种功能16种

尺寸·质量75（W）×145（D）×31（H）mm、0.34Kg

附件标准板（10μm?50μm?100μm?500μm?1000μm?1500μm均为近似值?各1枚）、标准板壳、铁质（FE-373）、探针适配器、手提壳、电池1.5V（单3碱）×4

选配标准板（附件以外厚度）、测量支架LW-990、电脑电缆、RS-232CUSB电缆、数据管理软件：《数据记录器LDL-03》