KETT凯特测头控制器膜厚计 LH-373

 KETT凯特测头控制器膜厚计 LH-373

 KETT凯特测头控制器膜厚计 LH-373

测量方式涡电流式

测定对象非磁性金属上绝缘覆膜

测量范围0～1200μm或47.0mils

测量精度50μm以下：±1μm、50μm以上1000μm以下：±2%、1000μm以上：±3%

分辨率100μm以下：0.1μm、100μm以上：1μm

符合规格JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501/ISO2808、ISO2360、ISO2064、ISO19840/BS3900-C5/ASTM D7091-5、ASTM E376

数据存储器数约39000点

校准线存储器应用程序存储器：存储100条校准线

探针一点接触定压式（LHP-J）

显示方法数字（带背光的LCD、最小显示位0.1μm）

外部输出电脑（USB或RS-232C）

电源电池1.5V（单3碱）×4个

功耗80mW（背光不亮时）

电池寿命100小时（背光不亮时，连续使用）

使用温度范围0～40℃

附加功能各种功能16种

尺寸、质量75（W）×145（D）×31（H）mm、0。34Kg

附件标准板（10μm・50μm・100μm・500μm・1000μm均为近似值・各1张）、标准板壳、铝坯（NFE-373）、探针适配器、手提箱、电池1.5V（单3碱）×4个

选配标准板（附件以外厚度）、测量支架LW-990、电脑电缆、RS-232CUSB电缆、数据管理软件：《数据记录器LDL-03》