产品简介
详细说明
- 与所有Olympus双晶探头兼容，可对内部腐蚀的金属的厚度进行测量
- 最小值/最大值模式
- 两个报警模式
- 差值模式
- 时基B扫描
- 缩减率
- 增益调整（标准、高、低）
- 密码式仪器锁定
- 回波到回波/穿透涂层：使用回波到回波选项，仪器屏幕上会显示金属的实际厚度，而涂层的厚度会被忽略。穿透涂层选项测量金属厚度与非金属涂层的厚度，这两个厚度都根据它们各自正确的材料声速值得到了调整。因此，在进行厚度测量时，无需去掉材料表面的漆层或涂层。
- 单晶： 这个选项可对很多材料，如：金属、塑料、复合材料、玻璃及陶瓷，进行非常精确的厚度测量。这个选项可与范围在2.25 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。
- 单晶高穿透：这个选项可对较厚或衰减性较高的材料，如：玻璃纤维或铸造金属，进行厚度测量。可与范围在0.5 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。这个选项包含单晶选项。
- 数据记录器：45MG测厚仪带有一个功能齐全的内置双向字母数字式数据记录器，可方便地存储和传输厚度读数和波形数据。这个选项包含基于Windows的GageView接口程序。
- 带有波形调整功能的实时A扫描： 用户使用这个可选实时A扫描模式，可以在测厚仪的显示屏上直接查看超声波形（或称A扫描），核查厚度测量读数，对增益和空白设置进行手动调整，以在具有挑战性的应用中最大限度地增强测量性能。这个极为有益的选项包含手动增益调整、扩展空白、首个回波空白、范围及延迟参数。
- 坚固耐用，设计符合IP67标准。
- 爆炸性气氛：可在国家防火协会规范（NFPA 70）500节I级2分段D组规定的爆炸性气氛环境中安全操作，并且通过了美军标准MIL-STD-810G方法511.4程序I中规定的测试。
- 防撞击测试：通过了美军标准MIL-STD-810G方法516.5程序I中规定的测试，每轴6个循环，15 g，11 msec半弦波。
- 防振动测试：通过了美军标准MIL-STD-810G方法514.5程序I附录C图6中的测试，一般暴露：每轴1小时。
- 宽泛的操作温度范围
- 可选的带有支架的橡胶保护套
- 可只用右手或左手操作的简洁的键区
- 可直接访问大多数功能的简便易行的操作界面
- 使用内置MicroSD存储卡和可插拔MicroSD存储卡的存储方式
- USB通讯端口
- 可存储475000个厚度读数或20000个波形的可选字母数字式数据记录器
- 默认或自定义单晶探头设置（可选）
- 密码保护方式的仪器锁定
- 彩色透反QVGA显示，带有室内和室外颜色设置，具有极佳的清晰度
- 45MG数字式超声测厚仪
- AA碱性电池
- 2阶试块和耦合剂
- USB线缆
- 用户手册，存于CD盘上
- 测量功能：最小值/最大值模式、两个报警模式、差值模式、B扫描、缩减率、可编程的锁定功能
- 45MG-SE (U8147022)：单晶选项，使用频率范围为2.25 MHz～30 MHz的单晶探头
- 45MG-HP (U8147023)：单晶高穿透选项，使用频率范围为0.5 MHz～30 MHz的单晶探头
- 45MG-EETC (U8147021)：回波到回波和穿透涂层
- 45MG-WF (U8147019)：波形选项
- 45MG-DL (U8147020)：内置数据记录器，包含GageView接口程序
- MICROSSD-ADP-2GB (U8779307)： 2 GB外置MicroSD存储卡
- 45MG-RPC (U8779676)： 带支架的橡胶保护套
45MG仪器是一款带有各种标准测量功能和软件选项的高级超声测厚仪。这款独具特色的仪器与所有Olympus双晶和单晶测厚探头兼容，是一款集所有解决方案于一机的创新型仪器，可用于几乎所有测厚应用。
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标准功能45MG仪器在使用基本配置时，是一款易懂易学、操作简便的测厚仪，操作人员经过最基本的培训，就可完成最常用的测厚应用。不过，45MG仪器添加了可选软件选项和探头后，就会变成一款极为高级的测厚仪，可以进行典型的初级仪器不能完成的应用。此外，大多数选项可以在购买仪器时分别购买，或在日后需要时购买。
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可选功能只需几次按键，即可完成从简单腐蚀测厚仪到多功能精确测厚仪的华丽变身。45MG测厚仪提供需密码激活的5个软件选项，从而跻身于工业领域中用途最广泛的测厚仪行列。 |
抵御恶劣环境的能力 |
 室内显示设置，可选A扫描模式 |
简便操作的设计理念 |
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45MG的技术规格
| 测量 | |
| 双晶探头测量模式 | 从激励脉冲后的精确延迟到第一个回波之间的时间间隔。 |
| 自动回波到回波（可选） | 在两个连续底面回波之间的时间间隔，不计漆层或涂层的厚度。 |
| 穿透涂层测量 （可选） | 利用单个底面回波，测量金属的实际厚度和涂层厚度（使用D7906-SM和D7906探头） |
| 单晶探头测量模式（可选） | 模式1：激励脉冲与第一个底面回波之间的时间间隔。 模式2：延迟块回波与第一个底面回波之间的时间间隔（使用延迟块或水浸式探头） 模式3：在激励脉冲之后，位于第一个表面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔（使用延迟块探头或水浸式探头）。 |
| 厚度范围 | 0.080 mm～635 mm（0.003 in.～25.0 in.）视材料、探头、表面条件、温度和所选配置而定（要测量最全的范围需要使用单晶选项） |
| 材料声速范围 | 0.508 mm/μs～18.699 mm/μs（0.020 in./μs～0.7362 in./μs） |
| 分辨率（可选择） | 低分辨率：0.1毫米（0.01英寸） 标准分辨率：0.01毫米（0.001英寸） 单晶选项：0.001毫米（0.0001英寸） |
| 探头频率范围 | 标准：2.25 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（单晶选项）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB） |
| 一般规格 | |
| 操作温度范围 | -10 °C～50 °C（14 °F～122 °F） |
| 键盘 | 密封、以色彩区分功能的键盘，带有触感及声音反馈 |
| 机壳 | 防撞击、防水、装有密封垫的机壳，机壳上的接口密封。设计符合IP67标准。 |
| 外型尺寸（宽 x 高 x 厚） | 总体尺寸：91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm |
| 重量 | 430.9克 |
| 电源 | 3节AA电池/USB电源供应 |
| 电池工作时间 | 3节AA碱性电池：20到21小时 3节AA镍氢电池：22到23小时 3节AA锂离子电池：35到36小时 |
| 标准 | 设计符合EN15317标准 |
| 显示 | |
| 彩色透反QVGA显示 | 液晶显示，显示屏尺寸：54.61毫米 x 41.15毫米 |
| 检波 | 全波、RF波、正半波、负半波（波形选项） |
| 输入/输出 | |
| USB | 2.0从接口 |
| 存储卡 | 最大容量：2 GB可插拔MicroSD存储卡 |
| 内置数据记录器（可选） | |
| 数据记录器 | 45MG通过USB或MicroSD卡识别、存储、调用、清除及传输厚度读数、波形图像和仪器配置信息。 |
| 容量 | 475000个厚度测量读数，或20000个带厚度值的波形 |
| 文件名称和ID编码 | 32位字符的文件名，20位字符的字母数字位码 |
| 文件结构 | 6个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构 |
| 报告 | 机载报告总结了数据统计和最小值/最大值 |
标准配置
软件选项
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