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高温试验低温试验高低温试验测试
高温试验低温试验高低温试验测试
产品价格:¥898
上架日期:2011-05-20 14:24:12
产地:全球
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详细说明
            
     高温试验
    80±2℃环境中放置4h,常温下放置2h后,各尺寸、绝缘电阻、耐压、按键功能、回路电阻符合正常要求,且外观无变形、翘曲、脱胶等异常现象。按键凸点高温下塌以及按力变小不作考核。
     
    温度范围:10℃~210℃。
     
      按GB/T 2423.1—89 《电工电子产品环境试验 第二部分:试验方法 低温试验》;
      GB/T 2423.22—87 《电工电子产品环境试验 第二部分:试验方法 温度变化试验方法》
      进行低温试验及温度变化试验。
     
     
     
    低温试验
    -30±2℃环境中放置4h,常温下放置2h后, 各尺寸、绝缘电阻、耐压、按键功能、回路电阻符合正常要求,且外观无变形、翘曲、脱胶等异常现象。
     
    温度范围:-70℃~10℃。
     
    按GB/T 2423.2—89 《电工电子产品环境试验 第二部分:试验方法 高温试验》;
      GB/T 2423.22—87 《电工电子产品环境试验 第二部分:试验方法 温度变化试验方法》
    进行高温试验及温度变化试验。
     
     
     
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