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日本中央电机微缺陷检测设备
日本中央电机微缺陷检测设备
产品价格:¥1
上架日期:2021-03-24 16:32:03
产地:本地
发货地:本地至全国
供应数量:不限
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详细说明

    微缺陷检测设备

    照片:微缺陷检测设备

    使用高分辨率相机和高精度XY载物台的二维检查设备。
    适用于检查光学膜,片,触摸面板等的表面划痕,异物和缺陷。
    光学分辨率为“ 1.8μm”,可以进行超高清检查。
    它也可以用于尺寸测量,并且可以检查二维冲压产品。

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    特征

    • 检查数据和图像自动保存
    • 相机像素数:900万像素
    • 高光学分辨率(1.8μm)使精美的检查点看起来更漂亮
    • 非常适合检查触摸屏的外围电极,印刷电路板上的细线断线和短路

    照片:微缺陷检测设备 照片:微缺陷检测设备 照片:微缺陷检测设备

    检查使用

    用于检查触摸屏和异物等缺陷!

    • 触摸屏周边电极缺陷检查
    • 板材表面划痕,异物检查
    • 板缺陷检查

    规格

    外形尺寸 1000 x 1200 x 1080毫米
    重量 400公斤
    测量范围 600 x 400毫米
    被测物体的高度 30毫米
    光学分辨率 1.8微米
    控制分辨率 1.0微米
    重复定位精度 ±5微米
    光学倍率 2次
    视场 6.3毫米x 5.0毫米
    监视器 TFT 23.6型宽 
    分辨率:1920 x 1080像素
    相机 CCD单色1英寸 
    像素数:900万像素
    镜片
    远心镜头 WD:65毫米 
    景深0.095毫米
    照明 同轴落射照明
    电源 AC100V 50/60赫兹
    开发语言 LabVIEW
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