Surtronic S-128粗糙度仪全网代理发售

泰勒-霍普森公司是一家高精密技术公司， 在精密表面计量领域占据着极高的地位。为了在这一迅速发展的领域中保持领先地位，我们在研究和发展领域投入了大量的精力- 20%的劳动力参与到产品的研发和维护工作中。泰勒-霍普森长久以来通过不断投资开发新应用产品，使其一直在表面形貌测量技术方面位于行业领先地位。我们有各行各业的科学专家，比如：物理和几何光学专家、薄膜专家、计算机模拟专家、超精密工程学专家、机械模型专家和数学家。

Surtronic S-128是Surtronic S-100系列粗糙度仪的旗舰版。专为车间环境、生产和检测间的应用所设计，能够对所有的粗糙度测量需求提供多样化的解决办法。能够提供提高测量范围和分析能力。并且对特殊要求能够量体裁衣的制定不同的应用专用配件。广泛使用于各种生产企业，尤其是精密轴承、汽车以及航天工程。

排版工具
Talyprofile能够提供一个综合性的排版工具,能够清晰的显示测量报告、结果和图形。曲线图、轮廓图和结果都能通过使用Talyprofile或者拷贝到其他文档处理软件而得到完整灵活的数据报告。
深度分析
对轮廓的分析可以通过调平和放大缩小去除原始数据中不必要的特征或缺陷。轮廓特征中的距离测量很容易实现,这些信息都可以以图表和数据的形式表现出来。同时也能够计算出台阶高度以及波峰、波谷面积。
兼容性
使用其它泰勒霍?普森表面粗糙度测量仪器的测量结果可以导入Talyprofile软件,能够生成一个统一的报表样式,用于车间或者实验室的使用。
Talyprofile参数
滤波后粗糙度参数: Ra, Rq, Rt, Rp, Ry, Rku, Rsk, RSm, Rz, RΔq, RTp, RHTp, Rlo, R?q, RPC, RzJIS, R3z.
原始轮廓参数(未滤波): Pa, Pq, Pt, Pp, Pv, Pku, Psk, PSm, Pz, PΔq, P?q, PTp, PHTp, PLo, PPc.
Rk参数(DIN 4776): Rk, Rpk, Rvk, MR1, MR2, A1, A2, Rpk, Rvk
R+W参数(“R&W”)*: R, AR, Pt, Rx, SR, SAR, Nr, Kr, W, AW, Wte, Wx, SW, SAW, Nw, Kw, Rke, Rpke, Rvke, Trc, HTrc.
*仅Gold和Silver含有

功能特点

一个50mm长的测针升降装置和直角附件；360度任意旋转，任何方向任何高度测量；轻触快捷键即可进行所有关键设置。迷你USB 2.0用于充电或连接电脑传输数据。A类型USB 2.0可连接便携式打印机或USB存储设备。防滑的V型脚架设计使系统能够用在平滑或弯曲的平面上。测针还能够反方向底部测量。

标准配置:

显示单元;112-1502标准测针;测针连接线;多刻线样板;测针提升机构;接口充电器;使用手册;USB通讯电缆;仪器箱

可选附件

测试平台：00级大理石平板：400X250X70mm有效高度：280mm。可调Y轴V型铁可调范围：±5mmV型铁长度100mm