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电容的失效模式和失效机理(一)
电容的失效模式和失效机理(一)
产品价格:¥12
上架日期:2019-05-16 09:10:21
产地:深圳
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详细说明

    电容器的常见失效模式有:击穿短路;致命失效 ――开路;致命失效  ――电参数变化(包括电容量超差、损耗角正切值增大、绝缘性能下降或漏电流上升等. 
    失效模式的失效机理 
    一,引起电容器击穿的主要失效机理 
    ①电介质材料有疵点或缺陷,或含有导电杂质或导电粒子; ②电介质的电老化与热老化; ③电介质内部的电化学反应; ④银离子迁移;  ⑤电介质在电容器制造过程中受到机械损伤; ⑥电介质分子结构改变;  ⑦在高湿度或低气压环境中极间飞弧;   ⑧在机械应力作用下电介质瞬时短路。
    二,引起电容器开路的主要失效机理  
    ①引线部位发生“自愈“,使电极与引出线绝缘; ②引出线与电极接触表面氧化,造成低电平开路; ③引出线与电极接触不良; ④电解电容器阳极引出箔腐蚀断裂; ⑤液体电解质干涸或冻结; ⑥机械应力作用下电介质瞬时开路。
    三,引起电容器电参数恶化的主要失效机理
     ①受潮或表面污染; ②银离子迁移; ③自愈效应;  ④电介质电老化与热老化; ⑤工作电解液挥发和变稠; ⑥电极腐蚀;  ⑦湿式电解电容器中电介质腐蚀; ⑧杂质与有害离子的作用; ⑨引出线和电极的接触电阻增大。
      同一失效模式有多种失效机理,同一失效机理又可产生多种失效模式。失效模式与失效机理之间的关系不是一一对应的。
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