内核
• 包含 2 个32位ARM® Cortex™-M0 内核• 提供 2 个 24 位系统定时器• 工作频率最高 50MHz• 硬件单周期乘法• 2 组集成嵌套向量中断控制器(NVIC),提供最多 32 个、4 级可配置优先级的中断,共享中断源
内置 LDO
• 可接受电压范围为 2.7V 至 3.6V
FLASH 存储器
16K • 可通过 SWD 接口烧录,支持加密• 支持 ISP(在系统编程)更新用户程序• 支持 IAP(在应用编程)记录用户数据
内部 SRAM 存储器
• 2K 单周期访问的 SRAM
串行接口
• 两路 UART 模块,具有独立 8 字节 FIFO• 一路 SSP 模块,具有 8 字节独立 FIFO,支持 SPI、Micro Wire、SSI 协议,传输速率最高可达系统时钟 1/2 • 一路高速 I2S 总线接口
PWM 控制模块
• 6 通道 16 位 PWM 产生器• 可设置高电平结束或周期开始两种条件触发中断• 具有普通、互补、中心对称等多种输出模式• 宽度可调节的前后死区控制• 提供设备保护,由硬件完成“刹车”功能• 由硬件完成与 ADC 的交互
定时器模块
• 4 路 32 位通用定时器,可做计数器使用• 路专用定时器,功能包括定时器、计数器、捕捉及 PWM 信号产生• 32 位看门狗定时器,溢出后可配置触发中断或复位芯片
GPIO
• 最多可达 61 个 IO,其中 20 路具备中断功能• 可配置 4 种 IO 模式• 上拉输入• 下拉输入• 推挽输出• 开漏输出
•灵活的中断配置• 触发类型设置(边沿检测、电平检测)• 触发电平设置(高电平、低电平)
模拟外设
• 12 位 8 通道高精度 SAR ADC• 采样率高达 1MSPS• 支持 Signle/Single-cycle scan/ Continuous scan/ Burst 四种模式• 独立结果寄存器• Burst 模式下提供 FIFO• 可由软件或 PWM 触发• 3 路模拟比较器/运算放大器• 作为模拟比较器可以灵活选择片内(16 级)、片外参考电压比较结果可以触发中断通知 MCU 进行处理• 作为运算放大器完全由用户根据需要进行电路设计结果可送至 ADC 进行转换处理• 欠压检测• 支持 4 级欠压检测
• 支持欠压中断和复位选择
时钟源
• 22.1184MHz 及 44MHz 精度可达 1%的片内时钟源• 片外 4 ~ 32Mhz 晶振
芯片参数:
芯片型号: | SWM150R6T6-50 | 主频(MHz): | 48 |
芯片内存(KB): | 16 | SRAM(KB): | 2 |
封装形式: | LQFP48 | 工作电压(V): | 2.7-3.6 |
32位定时器: | 4+1 | 通信接口: | UART*2;I²S*1;SPI*1; |
WDT: | 1 | HALL: | 0 |
SLCD: | 0 | GPIO: | 61 |
ADC/Σ-△ADC: | 1(8) | PWM: | 8 |
工作温度(℃): | -40~+105 | 低功耗: | 0 |