产品简介
Fischer测厚仪型号介绍
Fischer测厚仪型号介绍
产品价格：￥0
上架日期：2017-06-28 11:14:45
产地：德国
发货地：上海
供应数量：不限
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详细说明

    Fischer测厚仪型号介绍

     


    Fischer测厚仪型号介绍：

     

    类型

    		产品型号 简介
    袖珍式仪器 DUALSCOPE MP0 基于自动的基材识别功能和两种测量法的结合（磁感应/涡流，符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 标准），此通用型设备不仅可以对铁/钢上的多种涂层进行测量还可以对非铁金属上的涂层进行测量。
    袖珍式仪器 DUALSCOPE MP0R 基于自动的基材识别功能和两种测量法的结合（磁感应/涡流，符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 标准），此通用型设备不仅可以对铁/钢上的多种涂层进行测量还可以对非铁金属上的涂层进行测量。
    袖珍式仪器 DUALSCOPE MP0R-FP 基于自动的基材识别功能和两种测量法的结合（磁感应/涡流，符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 标准），此通用型设备不仅可以对铁/钢上的多种涂层进行测量还可以对非铁金属上的涂层进行测量
    手持式仪器 DELTASCOPE FMP10 用于测量非铁磁性金属涂层，例如钢铁上的铬、铜、锌以及涂料、油漆、瓷漆或塑料涂层。 （采用磁感应法，符合DIN EN ISO 2178，ASTM D7091 标准） 
    手持式仪器 ISOSCOPE FMP10 用于测量非铁磁性金属基材上的涂料、油漆或塑料涂层，铝上的阳极氧化膜和导电基材上的非导电涂层。 （采用电涡流法测量，符合DIN EN ISO 2360, ASTM D7091标准）
    手持式仪器 DUALSCOPE FMP20 自动识别基材，将两种测量法相结合（磁感应/电涡流，符合DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360标准），此通用型设备不仅可以对钢铁上的多种涂层进行测量还可以对非铁金属和非导电基材上的涂层进行测量
    手持式仪器 DELTASCOPE FMP30 用于测量非铁磁性金属涂层，例如钢铁上的铬、铜、锌以及涂料、油漆、瓷漆或塑料涂层。 （采用磁感应法，符合DIN EN ISO 2178，ASTM D7091标准）
    手持式仪器 ISOSCOPE FMP30 用于测量非铁磁性金属基材上的涂料、油漆或塑料涂层，铝上的阳极氧化膜和导电基材上的非导电涂层。 （采用电涡流法测量，符合 DIN EN ISO 2360, ASTM D7091标准）
    手持式仪器 DUALSCOPE FMP40 自动识别基材，将两种测量法相结合（磁感应/电涡流，符合DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360标准），此通用型设备不仅可以对钢铁上的多种涂层进行测量还可以对非铁金属和导电基材上的涂层进行测量。
    手持式仪器 DUALSCOPE FMP100 自动识别基材，将两种测量法相结合（磁感应/电涡流，符合DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360标准），此通用型设备不仅可以对钢铁上的多种涂层进行测量还可以对非铁金属和非导电基材上的涂层进行测量。
    手持式仪器 DUALSCOPE FMP15O 一台仪器具有三种测量方法（电涡流法、磁感应和霍尔效应）。 采用霍尔效应，扩展了可测量范围。 所有模块都根据 DIN EN ISO 2178、 ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 标准进行测量 
    手持式仪器 PHASCOPE PMP10 手持式设备，用于非破坏性的测量多种基材上的，包括小型结构和粗糙表面上的导电涂层的厚度
    手持式仪器 PHASCOPE PMP10 DUPLEX 可无损测量钢铁上双涂层（镀锌再镀漆）厚度的手持式仪器
    台式仪器 FISCHERSCOPE MMS PC2 高级台式设备，用于通用的涂层厚度测量和材料测试，具有彩色触摸屏、可进行个性化配置并带有各种设备接口
    β射线反向散射法 BETASCOPE BETASCOPE作为台式仪器MMS和MMS PC2的测量模块，是根据β背散射法，由不同材料间的差异，来测量涂镀层厚度的，特别适用于测量较薄的有机涂层。
    库伦法 COULOSCOPE CMS 台式仪器，使用库伦法测量几乎所有金属镀层厚度，无论基材是金属或非金属，无论镀层结构是单镀层还是多镀层。
    库伦法 COULOSCOPE CMS STEP 测量法对多层涂镀层系统的电位差进行测量，以及用于金属或非金属基材上所有的金属涂镀层的库仑电量涂镀层厚度测量（单层或多层系统）
    微电阻法 SR-SCOPE RMP30-S 用于测量线路板上铜层厚度的手持式仪器，它无损、快速、精确并且不会受到背面铜层的影响。
    探头 高精度探头 任何一个电磁测量系统的核心都会是探头，其信号质量最终决定了计量方案的整体测量质量。 进过多年的研发和创新，FISCHER现在拥有超过100种探头，可以在各种测量任务中实现具有最高精确度的测量结果
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