产品简介
Sinton少子寿命测试仪BLS-I测试单晶多晶硅棒性能测试
Sinton少子寿命测试仪BLS-I测试单晶多晶硅棒性能测试
产品价格:¥36.00
上架日期:2024-10-04 13:02:57
产地:上海上海
发货地:上海上海
供应数量:不限
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详细说明
    产品参数
    品牌Sinton Instrument
    规格BLS-Imm
    加工定制
    商品编号(bn)BLS-I
    测量原理QSSPC(准稳态光电导)
    电阻率测试范围0.5–300 Ohm-cm
    少子寿命测量范围100 ns-10 ms
    测试模式QSSPC,瞬态,寿命归一化分析
    载流子浓度注入范围1013-1016cm-3
    测量深度3mm
    偏置光范围0-50suns
    外界环境温度20°C–25°C
    通用电源电压100–240 VAC 50/60 Hz;
    传感器范围45x15mm
    测试温度20-25°
    测试范围硅棒
    尺寸7.9 cm W x 16.3 cm D x 12.7 cm H
    光学常数值0.7
    可售卖地全国
    型号硅棒少子寿命测试仪

    Sinton BLS-I少子寿命测量仪

    BLS-I测量系统用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量,除需要有一个测量平面外,对样块 体形无严格要求,可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体 内重金属杂质污染及缺陷存在的情况,是单晶质量的重要检测项目。

    Sinton 少子寿命测量仪,BCT-400测试硅锭,BLS-I测试硅棒,Sinton X-闪光灯头,Sinton X5D闪光灯头,Sinton X闪光灯座。






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