产品参数 | |||
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品牌 | Sinton Instrument | ||
规格 | BLS-Imm | ||
加工定制 | 是 | ||
商品编号(bn) | BLS-I | ||
测量原理 | QSSPC(准稳态光电导) | ||
电阻率测试范围 | 0.5–300 Ohm-cm | ||
少子寿命测量范围 | 100 ns-10 ms | ||
测试模式 | QSSPC,瞬态,寿命归一化分析 | ||
载流子浓度注入范围 | 1013-1016cm-3 | ||
测量深度 | 3mm | ||
偏置光范围 | 0-50suns | ||
外界环境温度 | 20°C–25°C | ||
通用电源电压 | 100–240 VAC 50/60 Hz; | ||
传感器范围 | 45x15mm | ||
测试温度 | 20-25° | ||
测试范围 | 硅棒 | ||
尺寸 | 7.9 cm W x 16.3 cm D x 12.7 cm H | ||
光学常数值 | 0.7 | ||
可售卖地 | 全国 | ||
型号 | 硅棒少子寿命测试仪 |
Sinton BLS-I少子寿命测量仪
BLS-I测量系统用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量,除需要有一个测量平面外,对样块 体形无严格要求,可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体 内重金属杂质污染及缺陷存在的情况,是单晶质量的重要检测项目。
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