Sinton少子寿命测试仪BLS-I测试单晶多晶硅棒性能测试招商信息-机电一体化网

产品简介

Sinton少子寿命测试仪BLS-I测试单晶多晶硅棒性能测试

产品价格：￥36.00

上架日期：2024-06-17 01:46:16

产地：上海上海

发货地：上海上海

供应数量：不限

最少起订：1

浏览量：8

点击询价 QQ洽谈

资料下载：暂无资料下载

其他下载：暂无相关下载

详细说明

产品参数
品牌	Sinton Instrument
规格	BLS-Imm
加工定制	是
商品编号(bn)	BLS-I
测量原理	QSSPC（准稳态光电导）
电阻率测试范围	0.5–300 Ohm-cm
少子寿命测量范围	100 ns-10 ms
测试模式	QSSPC，瞬态，寿命归一化分析
载流子浓度注入范围	1013-1016cm-3
测量深度	3mm
偏置光范围	0-50suns
外界环境温度	20°C–25°C
通用电源电压	100–240 VAC 50/60 Hz；
传感器范围	45x15mm
测试温度	20-25°
测试范围	硅棒
尺寸	7.9 cm W x 16.3 cm D x 12.7 cm H
光学常数值	0.7
可售卖地	全国
型号	硅棒少子寿命测试仪

Sinton BLS-I少子寿命测量仪

BLS-I测量系统用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，除需要有一个测量平面外，对样块体形无严格要求，可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体内重金属杂质污染及缺陷存在的情况，是单晶质量的重要检测项目。

Sinton 少子寿命测量仪，BCT-400测试硅锭，BLS-I测试硅棒，Sinton X-闪光灯头，Sinton X5D闪光灯头，Sinton X闪光灯座。