产品简介
快速脉冲抗扰度硬件测试设备产品EMC技术支持问题诊断
快速脉冲抗扰度硬件测试设备产品EMC技术支持问题诊断
产品价格:¥734.00
上架日期:2024-02-18 22:56:18
产地:上海上海
发货地:上海上海
供应数量:不限
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详细说明
    产品参数
    品牌爱德万
    名称传导发射测试系统
    工作电源AC220V
    数量1套
    操作温度15℃
    应用产品电子
    封装台式整机
    批号773472
    标准EN 55022
    输入电流交流
    相位单相
    操作方式触控
    可售卖地北京;上海;江苏;浙江;湖北;湖南;广东;重庆;四川
    用途EMC评估
    型号FFT3010
    快速脉冲抗扰度硬件测试设备产品EMC技术支持问题诊断
    博达电磁兼容性实验室硬件包括:
    一套传导发射(Conducted Emission)测试系统
    一套抗扰度测试实验室,包括:
    静电放电发生器 ESD(Electrostatic Discharge Generator)
    脉冲群发生器 EFT(Fast Transient Burst Simulator)
    雷击浪涌发生器 Surge(Lightning Surge Generator)
    (电源)
    雷击浪涌发生器 Surge(Lightning Surge Generator)
    (信号)
    射频场感应的传导骚扰抗扰度测试系统CS
    工频磁场抗扰度测试系统PFMF
    周波跌落发生器(Cycle Sag Simulator)(交流)
    周波跌落发生器(Cycle Sag Simulator)(直流)
    阻尼震荡发生器(Damped Oscillatory We Gnenrator)
    服务项目
    参考标准
    电磁干扰
    ElectromagneticDisturbance
    传导发射ConductedEmission
    (频率范围FrequencyRange:0.15-30MHz)
    EN55022/CISPR22EN55032/CISPR32GB/T9254
    电磁敏感性
    ElectromagneticSusceptibility
    静电放电抗扰度Electrostaticdischargeimmunity
    EN55024/CISPR24EN55035/CISPR35IEC/EN61000-4-2GB/T17626.2
    电快速瞬变脉冲群抗扰度Electricalfasttransient/burstimmunity
    EN55024/CISPR24EN55035/CISPR35IEC/EN61000-4-4GB/T17626.4
    浪涌冲击抗扰度Surgeimmunity
    EN55024/CISPR24EN55035/CISPR35IEC/EN61000-4-5GB/T17626.5
    浪涌冲击抗扰度Surgeimmunity
    EN55024/CISPR24EN55035/CISPR35IEC/EN61000-4-5GB/T17626.5
    射频场感应的传导骚扰抗扰度Immunitytoconducteddisturbances,inducedbyradio-frequencyfields
    EN55024/CISPR24EN55035/CISPR35IEC/EN61000-4-6GB/T17626.6
    工频磁场抗扰度Powerfrequencymagneticfieldimmunity
    EN55024/CISPR24EN55035/CISPR35IEC/EN61000-4-8GB/T17626.8
    交流电源暂降、暂时中断抗扰度ACVoltagedips,shortinterruptionsandvoltagevariations
    EN55024/CISPR24EN55035/CISPR35IEC/EN61000-4-11GB/T17626.11
    阻尼振荡波抗扰度OscillatoryWes
    EN55024/CISPR24EN55035/CISPR35IEC/EN61000-4-18GB/T17626.18
    直流电源暂降、暂时中断抗扰度DCVoltagedips,shortinterruptionsandvoltagevariations
    EN55024/CISPR24EN55035/CISPR35IEC/EN61000-4-29GB/T17626.29









    浪涌测试实验室EMC测试场地MIPI C-PHY测试
    测试为了发现问题而执行操作的过程
    但是,硬件测试并非只是为了要找到问题;
    而是需要经分析问题的成因及分布特性,辅助项目管理人员找到设计环节所存在的问题和缺陷,进而予以有针对性的改进;
    同时,此类分析亦可辅助测试工作者设计出有指向性的测试方案,因此深化测试的有效性。
    一个好的测例是在于它能发现至今未发现的问题;
    一个成功的测试是发现了“至今未发现的问题”的测试;
    没有发现错误的测试也是有价值的,完整的测试是评定测试质量的一种方法。
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