产品简介
主板SIUSB3Clock时序测试服务电磁兼容性高低温可靠性实验室
主板SIUSB3Clock时序测试服务电磁兼容性高低温可靠性实验室
产品价格:¥380.00
上架日期:2023-10-02 12:22:19
产地:上海上海
发货地:上海上海
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详细说明
    产品参数
    品牌Tektronix
    名称串行数据分析仪
    工作电源AC220V
    操作温度15℃
    是否出租
    数量1套
    封装开板
    批号A0V0LUU579
    应用产品交换机
    系列DPO
    带宽1GHz
    采样率5GS/s
    模拟通道4
    可售卖地北京;上海;江苏;浙江;湖北;湖南;广东;重庆;四川
    型号DPO5104

    主板SI USB3.0,3.1Clock时序测试服务电磁兼容性高低温可靠性实验室


    一. 信号完整性


    目的


    信号完整性测试,是作为提高产品电气特性方面性能的参考依据。主要对主板上的COCLK,SPI, MDIO, PCIe, DDR3,RGMII,SFP ,QSFP,I2C等项目进行测试分析。


    三、PCIE 3.0的测试


    首先要说明的一点是,由于PCIE 3代目前只颁布了Base的规范(即芯片规范),但CEM规范(即主板和插卡的规范)和测试规范还没有正式发布,所以下面介绍的方法是基于目前的通用做法,以后随着规范的正式发布,具体测试方法可能还有变化。


    数据眼图(Data Eye)使用伪随机码型(PRBS)由恢复的时钟作为参考来形成数据信号的眼图。必须捕获10万或1百万个波形。HW CRUTest FixtureData Lane(0, 1 or 2)Raw Clock眼图可以定义为:1) 所有位累积的眼图2) 按位累积的眼图—例如,数据中的第4位0123456789Pixel Ck PeriodCk to Data DelayClockInserted edges










    POE测试服务接口一致性测试服务电脑主板测试服务

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