1.1技术原理 

试样中被测元素的原子受到来自于X射线管的一次X射线激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定能量的X 射线二次荧光，利用高性能（能量分辨率<160eV）的X 射线硅漂移SDD检测器探测试样中被测元素所发出的各种能量的特征X 射线，根据检测器输出信号的能量高低（波长）和强度来对被测元素进行定性和定量分析。 

1.2 仪器性能

1.2.1可在大气中现场快速无损的（2秒显示牌号和实验室级的分析结果/额外增加10秒可分析Mg，Al，Si，P，S）分析检测并鉴别出各种不锈钢，低合金钢，有色合金，金属等材质中的常量和微量元素含量，检出限可达几个ppm, 并可根据用户需要进行扩展，以满足粉末，矿石，土壤等不同样品更多的分析测试要求，测量元素可达41种。

1.2.2设备体积小，重量轻，分析精度高，一体化程度高，可靠性极佳，集多种应用于一体，特别适用于高精度材料成分快速检测。

1.2.3配有最先进的Peltier电制冷硅漂移SDD（Sillicon Draft detector）计数器, 数据处理能力10倍于PIN二极管检测器，可有效防止计数溢出造成的漏计。SDD技术显著减少分析所占用的X射线开启时间，在同样的仪器使用条件下可以测试更多的样品，有效提升工作效率。

1.2.4 采用复合滤光片 (多金属复合材料) 设计, 显著减少了由于更换滤波片造成的分析时间的浪费（最高缩短5倍时间），采用不同的激发条件保证对元素周期表中Mg – Th 的所有元素均有理想的激发效果，减少了操作时间，大幅度降低X射线对操作人员造成伤害的可能性, 是真正意义上的安全的快速无损现场检测设备。

1.2.5 配置FP快速定性, 半定量 (定量) 程序。可对任何完全未知的样品进行‘解剖’分析。与其他同类仪器相比，FP更为接近(符合)实际，在此程序中采用了数千种国际标准样品，实测结果并予以固化。

1.2.6 采用人机功效学原理，一体化的ePC可以完成诸如：仪器控制，测试操作，自动识别，背底扣减，谱峰重叠，堆砌峰/逃逸峰校正，定量计算等操作功能。仪器采用分级密码，重要的数据得到保护。标准USB接口更方便数据传出。

1.2.7 具备Interlock安全互锁和硬体快门。如未检测到测试样品，快门互锁装置会于200毫秒内自动关闭快门并同时切断X射线，连锁保护功能最大程度保护操作人员的人身安全；快门即为目前所有品牌中唯一内置的ICAL自校准样品，自动校准仪器，自动修正偏差，无需外置自校准标样，保证分析结果的准确性。

1.2.8仪器在Windows CE操作系统上建立斯派克的分析软件，操作极为方便。采用人机功效学原理，谱图汇编，自动识别，背底扣减，谱峰重叠，堆砌峰/逃逸峰校正。定性、定量功能强大。仪器采用分级密码，重要的数据得到保护。

1.2.9仪器具有多种校正模式(数学模型)(方法)，在定量分析中可充分应用，以取得最佳的分析结果。方法包括: 基本参数法、卢卡斯经验系数法、质量吸收系数法、基体匹配校正等等。