双Z轴测量技术,可灵活选配多种传感器及转台配置,满足多任务测量需求。
OPTIV M 3.2.2
OPTIV M 4.4.3
OPTIV M 6.6.3
OPTIV M 6.6.4
OPTIV M 4.4.3 Dual Z
OPTIV M 6.6.3 Dual Z
OPTIV M 6.6.4 Dual Z
OPTIV PERFORMANCE 4.4.2
OPTIV PERFORMANCE 6.6.2
专利双Z轴复合式测量技术,实现亚微米范围内的测量精度,开创影像精密测量的技术新高。光学测量和接触测量结合在一个系统中,使得复合式影像测量仪极大限度地提高了测量效率和应用的灵活性。PERFORMANCE / M 还配备双Z轴技术,进一步缩短了检测周期,降低检测成本,提高测量结果可靠性。
Optiv PERFORMANCE / M 系列影像测量仪被广泛的应用于: 3C电子、半导体、精密机械、医疗、航空航天、计量院所等行业。
1) CCD影像:
对小、薄、软、精密的被测特征进行非接触测量避免形变。
2) CWS白光:
对柔软、反射或低对比度的表面进行亚微米精度级别的测量。
3) 接触式扫描:
对影像无法完成无法识别的三维特征进行单点触发和连续扫描测量。
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