品牌:GE | 型号:IAP-..25.3.2 | 频率:0.25M Hz | ||||
功率:10 W | 破碎容量:12 ml | 占空比:20 | ||||
电源:3 V | 外形尺寸:9*9 mm | 重量:0.03 kg | ||||
用途:超声波探头 |
A-..和IAP-..:用于由金属和非金属材料制成的零部件中*小缺陷的探测,有非常高的分辨率,这些缺陷在零部件表面下分布展开:例如半导体基体、电气插头和表面保护层中的材料分离、气孔和杂质等。同样地,它还可以应用于扩散焊接、电阻焊接和粘合焊接等的测试,以及由陶瓷、粉末金属、钛和其它合金制成的预制成型零部件的测试。
接触式和水浸式接触法探头
直射线---单晶
•被检测件有规则外形和相对光滑的接触表面
•接触面或平或曲
•缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的声束探测
•透透厚部件
•逐步块改善提高近场分辨率
•需要聚合层,一般为凝胶,油类,浆糊
•通常用于手动检测
直探头---双晶
•接受发射单元用串扰挡板分开
•缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的声束探测
•近表面分辨率好,用于较薄部件
•需要聚合层,一般为凝胶,油类,浆糊
•通常用于手动检测
斜探头
•芯片安装在内置的或可更换的斜块上
•利用折射让纵波或者横波沿确定角度传播
•大多数标准探针通过模式转换产生横波
•有所倾斜的缺陷的检测,如焊缝
•有单晶探头和双晶探头
•需要聚合层,一般为凝胶,油类,浆糊
•有时用于机械化或自动化检测2个换能器选择标准和性能
压电高聚物高频直探头 | 特性:非常高的分辨率,聚焦声束宽度非常小 |
IAP-..25.2.0.5 IAP-..25.2.1 IAP-..25.3.1 IAP-..25.3.2 IAP-..50.2.0.3 IAP-..50.2.0.5 IAP-..50.2.1 IAP-..50.3.1 IAP-..50.3.2 |
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IA-..25.2 IA-..25.3 IA-..50.2 IA-..50.3 |