产品简介
奥林巴斯探伤仪 测厚仪可更换延迟块探头V204-RM V201-RM V205-RM
奥林巴斯探伤仪 测厚仪可更换延迟块探头V204-RM V201-RM V205-RM
产品价格:¥面议
上架日期:2021-03-23 21:08:02
产地:美国
发货地:本地至全国
供应数量:不限
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详细说明

    品牌奥林巴斯 型号:V204-RM 加工定制:否
    类型:超声波 测量范围:10 分辨率:20*22
    尺寸:12 mm


    奥林巴斯探伤仪 测厚仪可更换延迟块探头V204-RM

    介绍

    Olympus公司是一家专营光学、电子及精密工程产品,涉及工业、医
    疗及消费市场的跨国公司。Olympus生产的仪器有助于保证产品质
    量,提高基础设施及设备的安全性。


    Olympus NDT公司是全球领先的生产创新型无损检测和测量仪器
    的企业。其生产的仪器应用于包括航空、电力、石油化工、民用
    基础设施、汽车以及消费产品在内的各种工业和研究领域。其掌握
    的前沿检测技术包括超声、超声相控阵、涡流、涡流阵列、显微镜
    检查、光学计量,以及X光荧光分析。其生产的产品包括探伤仪、测
    厚仪、工业NDT系统及扫查器、视频镜、管道镜、高速视频摄像机、
    显微镜、便携式X光分析仪、探头及各种辅助设备。


    Olympus NDT公司的总部设在美国马萨诸塞州的沃尔瑟姆,并在
    世界范围内的各大主要工业地区都设有销售和服务中心。


    Panametrics超声探头
    我们提供的各种频率、晶片直径及连接器类型的Panametrics
    声探头有5000种以上。拥有40多年探头研制经验的Olympus
    NDT
    已经开发了用于缺陷探测、焊缝检测、厚度测量及材料分
    析等特殊应用的各种各样的定制探头







    可更换延迟块探头
    每个探头的配置都带有一个标准延迟块和 一个固定环。
    备有高温延迟块和干耦合延迟块。
    探头及延迟块端部之间需要耦合剂。


    优势

    强阻尼探头加上延迟块可以提供的近场分辨率。
    较高的探头频率提高了分辨率。
    直接接触法可提高测量薄材料及发现细小缺陷的能力。
    具有外形吻合性能,适用于曲面工件。


    应用

    精确测厚。
    垂直声束缺陷探测。
    对接触区域有限的工件进行检测。



    奥林巴斯探伤仪 测厚仪可更换延迟块探头

    选购型号:

    频率 标称
    晶片尺寸
    探头工件编号
    MHz 英寸 毫米
    2.25 0.25 6 V204-RM
    5 0.50 13 V206-RM
    0.25 6 V201-RM
    10 0.25 6 V202-RM
    0.125 3 V203-RM
    15 0.25 6 V205-RM
    20 0.125 3 V208-RM

    可更换延迟块探头选项

    标准
    晶片尺寸
    标称
    延迟块
    高温 干耦合
    延迟块 
    备用固定环 带有弹簧的支架
    *高175°C
    (350°F)
    *高260°C
    (500°F)
    *高480°C
    (900°F)
    英寸 毫米
    0.50 13 DLH-2 DLHT-201 DLHT-2 DLHT-2G DLS-2 DRR-2 2130
    0.25 6 DLH-1 DLHT-101 DLHT-1 DLHT-1G DLS-1 DRR-1 2127&DRR-1H
    0.125 3 DLH-3 DLHT-301 DLHT-3 DLHT-3G DLS-3 DRR-3 2133&DRR-3H

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