产品简介
德国KD涂层测厚仪PC-LEPTOSKOP 2050
德国KD涂层测厚仪PC-LEPTOSKOP 2050
产品价格:¥面议
上架日期:2021-03-23 21:06:32
产地:本地
发货地:本地至全国
供应数量:不限
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详细说明

    品牌:德国KD 加工定制:否 型号:PC-LEPTOSKOP 2050
    类型:涂层 测量范围:0-120 mm 显示方式:数显
    电源电压:1.5 V


    德国KD涂层测厚仪PC-LEPTOSKOP 2050

    产品介绍

    PC-LEPTOSKOP是由KARL DEUTSCH 公司提供膜层测厚仪的探头,它只需和普通电脑的串口线相连。所以普通膜层测厚仪的功

    能均可通过与WINDOWS操作系统匹配的通用电脑软件STATWIN 2002来实现。

    当启动statwin 2002时,一个真实的涂层测厚仪显示图像就可以显示在个人电脑的屏幕上。所有功能操作只需点击一下鼠标

    或键盘。 STATWIN 2002用statwin 2002 ,可以分批储存和管理几乎任何数量的测量数据。文件和归档几乎是无限的。 此

    外,该软件附带了大量的统计功能,可以实现测量评估和批次。

    除了有测量铁磁性基体上非铁磁涂层的厚度(如钢铁上的漆层或铬层)和导电材料上的非导电层涂层的厚度(如非铁金属上

    的漆层),测量范围到1200 μ m的标准探头,我们还有特殊高精度的、能测量不同的小部位或复杂的几何形状的探头,双

    晶探头可测量厚度高达12.5mm,我们同时还提供完整的配件。

    为固定测试有特别的设计, PC-leptoskop 2050是一个的膜层测厚仪。



    应用实例为
    PC-leptoskop 2050

    笔记型电脑与个人电脑软件statwin 2002
    电脑微型探头和定位装置




    订货信息

    STATWIN 2002 电脑软件          2904.001
    用于
    Windows 9x/XP/Me/2000/NT4.0


    德国KD涂层测厚仪PC-LEPTOSKOP 2050 探头,测量范围和订货号


    德国KD涂层测厚仪PC-LEPTOSKOP 2050探头


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