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无损检测仪器
产品简介
德国菲希尔X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪
产品价格:
¥面议
上架日期:
2021-03-23 21:06:22
产地:
本地
发货地:
本地至全国
供应数量:
不限
最少起订:
1台
浏览量:
133
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详细说明
品牌
:德国菲希尔
加工定制
:否
型号
:X-RAY XDL210/220/230/240
类型
:激光
测量范围
:0.0001-3 mm
显示方式
:数字
电源电压
:9 V
外形尺寸
:570×760×650 mm
德国菲希尔X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪
FISCHERSCOPE ® X-RAY XDL ® 240
X
射线荧光镀层测厚及材料分析仪,采用自动方
式,测量和分析印刷电路板、防护及装饰性镀层
及大规模生产的零部件上的镀层。
德国菲希尔X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪
简介
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240
是一款应用广泛的能量色散型
X
射线荧光镀层测厚及
材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析,同时还能全自
动检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。
XDL 240
特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。
典型的应用领域有:
• 测量大规模生产的电镀部件
• 测量超薄镀层,例如:装饰铬
• 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
• 全自动测量,如测量印刷线路板
• 分析电镀溶液
XDL 240
有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器。
比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。
由于采用了
FISCHER
完全基本参数法,因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样
品,仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。
设计理念
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240
是一款用户界面友好的台式测量仪器。马达驱动的
X-
Y
工作台,当测量门打开时,工作台会自动移到放置样品的位置;马达驱动的
Z
轴系
统,可编程运行。
高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能,可以精确定位测量位置。通过视频
窗口,还可以实时观察测量过程和进度。配备了激光点,可以辅助定位并快速对准测
量位置。
测量箱底部的开槽是专为面积大而形状扁平的样品所设计,由此仪器就可以测量比测
量箱更长和更宽的样品。例如:大型的印制电路板。
带有放大功能和十字线的集成视频显微镜简化了样品摆放,并且允许测量点的精确调
整。
所有的仪器操作,以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示,都可以通过功能
强大而界面友好的
WinFTM ®
软件在电脑上完成。
XDL
型镀层测厚及材料分析仪作为受完全保护的仪器,型式许可完全符合
德国“
Deutsche Röntgenverordnung-RöV
”法规的规定。
德国菲希尔X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪
通用 规格
设计用途 能量色散型
X
射线荧光镀层测厚及材料分析仪
(EDXRF)
, 用于测定超薄镀层和溶液
分析。
元素范围 从元素 氯
(17)
到 铀
(92)
配有可选的
WinFTM® BASIC
软件时,*多可同时测定
24
种元素
设计理念 台式仪器,测量门向上开启
测量方向 由上往下
X
射线源
X
射线管
带铍窗口的钨管
高压 三档:
30 kV
,
40 kV
,
50 kV
孔径(准直器)
Ø 0.3 mm
可选:
Ø 0.1 mm
;
Ø 0.2 mm
;长方形
0.3 mm x 0.05 mm
测量点尺寸 取决于测量距离及使用的准直器大小,
实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致
*小的测量点大小约
Ø 0.2mm
X
射线探测
X
射线接收器
测量距离
比例接收器
0 ~ 80 mm
,使用专利保护的
DCM
测量距离补偿法
样品定位
视频系统
高分辨率
CCD
彩色摄像头,沿着初级
X
射线光束方向观察测量位置
手动聚焦,对被测位置进行监控
十字线(带有经过校准的刻度和测量点尺寸)
可调节亮度的
LED
照明,激光光点用于精确定位样品
放大倍数
40x
–
160x
电气参数
电源要求
220 V
,
50 Hz
功率 *大
120 W
(不包括计算机)
保护等级
IP40
尺寸规格
外部尺寸 宽×深×高
[mm]
:
570
×
760
×
650
内部测量室尺寸 宽×深×高
[mm]
:
460
×
495x
(参考“样品*大高度”部分的说明)
重量
120 kg
环境要求
使用时温度
10
°
C
–
40
°
C
存储或运输时温度
0
°
C
–
50
°
C
空气相对湿度 ≤
95 %
,无结露
工作台
设计 马达驱动,可编程
X/Y
平台
255 x 235 mm
≤
80 mm/s
≤
0.01 mm
单向
300 x 350 mm
马达驱动,可编程运行
140 mm
5 kg
,降低精度可达
20kg
140 mm
有
X/Y
平台*大移动范围
X/Y
平台移动速度
X/Y
平台移动重复精度
可用样品放置区域
Z
轴
Z
轴移动范围
样品*大重量
样品*大高度
激光(
1
级)定位点
计算单元
计算机 带扩展卡的
Windows ®
计算机系统
软件 标准:
WinFTM ® V.6 LIGHT
可选:
WinFTM ® V.6 BASIC
,
PDM
,
SUPER
执行标准
CE
合格标准
EN 61010
型式许可 作为受完全保护的仪器
型式许可完全符合德国“
Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法规的规定。
德国菲希尔X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪
订货号
FISCHERSCOPE X-RAY XDL240 604-498
如有特殊要求,可与
FISCHER
磋商,定制特殊的
XDL
型号。
FISCHERSCOPE ® ; XDL ® ; WinFTM ® ; PDM ®
是
Helmut Fischer GmbH Institut f
ü
r Elektronik und Messtechnik, Sindelfingen
–
Germany
的注册商标。
Windows ®
是
Microsoft Corporation
在美国及其他地区的注册商标。
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