雷达物位计介绍:
分类介绍 |
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型号 |
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应用 |
过程条件简单的液体 |
过程条件复杂或 腐蚀性较强的液体 |
存储容器或过程复杂 的容器液体 |
最大量程 |
0-20米 |
0-30米 |
0-35米 |
测量精度 |
±10mm |
法兰 |
法兰 |
过程连接 |
螺纹G11/2A,法兰 |
PTFE,316L+PTFE |
316L/304S不锈钢 |
天线材料 |
PTFE/PVDF/PP |
-40-200℃ |
-40-350℃ |
过程温度 |
-40-150℃ |
-100-6000KPa |
-100-6000KPa |
过程压力 |
-100-500KPa |
-100-6000KPa |
-100-6000KPa |
频率范围 |
26GHz |
26GHz |
26GHz |
信号输出 |
两线制/四线制 4-20mA/HART,48总线 |
两线制/四线制 4-20mA/HART,485总线 |
两线制/四线制 4-20mA/HART,485总线 |
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型号 |
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最大量程 |
0-20米 |
0-25米 |
0-35米 |
测量精度 |
±10mm |
±3mm |
±3mm |
过程连接 |
螺纹G11/2A,法兰 |
法兰 |
法兰 |
天线材料 |
PTFE/PVDF/PP |
PTFE,316L+PTFE |
316L/304S不锈 |
过程温度 |
-40-150℃ |
-40-300℃ |
-40-350℃ |
过程压力 |
-100-500KPa |
6.3GHz |
6.3GHz |
频率范围 |
26GHz |
26GHz |
26GHz |
信号输出 |
两线制/四线制 |
两线制/四线制 |
两线制/四线制 |
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型号 |
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应用 |
存储容器或过程仓储的固体粉料、颗粒料位 |
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最大量程 |
0-70米 |
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测量精度 |
±3mm |
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过程连接 |
法兰 |
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天线材料 |
316L/304S不锈钢 |
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过程温度 |
-40-400℃,特殊可达1300℃ |
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过程压力 |
-100-3000KPa |
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频率范围 |
6.3GHz |
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信号输出 |
两线制/四线制4-20mA/HART,485总线 |
雷达物位计的特性与优势:
1 |
无盲区,高精度 |
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3 |
不受压力变化、真空、温度变化、惰性气体、烟尘、蒸汽等环境影响 |
4 |
安装简便,牢固耐用,免维护 |
5 |
HART或PROFIBUS-PA通信协议及基金会现场总线协议,标定简便、通过数字液晶显示轻松实 现现场标定操作,通过软件GDPF实现简单的组态设定和编程测量灵敏,刷新速度快。 |
6 |
测量灵敏,刷新速度快。 |
7 |
适用于高温工况,高达200℃过程温度,当采用高温延长天线时可达350℃ |
雷达物位计的测量原理
雷达物位计天线发出微波脉冲,在被测物料表面产生反射,并被雷达系统所接收。
雷达物位计的输入
天线接收反射的微波脉冲并将其传输给电子线路,微处理器对此信号进行处理,识别出微波脉冲在物
料表面所产生的回波。正确的回波信号识别由智能软件完成,精度可达到毫米级。距离物料表面的距离D
与脉冲的时间行程T成正比:D=C×T/2 ,其中C为光速因空罐的距离E已知,则物位L为:L=E-D
雷达物位计的输出
通过输入空罐高度E(=零点),满罐高度F(=满量程)及一些应用参数来设定,应用参数将自动使
仪表适应测量环境。对应于4-20mA输出。
雷达物位计的测量盲区
盲区(BD)是从测量参考点到最高物位时的介质表面的最小距离
盲区 |
天线长度 |
天线长度 |
天线长度 |
从法兰开始 |
(参见尺寸图) |
(参见尺寸图) |
(参见尺寸图) |
雷达物位计的测量条件
1 |
测量范围从波束触及罐低的那一点开始计算,但在特殊情况下,若罐低为凹型或锥形,当物位低 于此点时无法进行测量。 |
2 |
若介质为低介电常数当其处于低液位时,罐低可见,此时为保证测量精度,建议将零点定在低高 度为C 的位置。 |
3 |
理论上测量达到天线尖端的位置是可能的,但是考虑到腐蚀及粘附的影响,测量范围的终值应距 离天线的尖端至少50mm。 |
4 |
对于过溢保护,可定义一段安全距离附加在盲区上。 |
5 |
最小测量范围与天线有关。 |
6 |
随浓度不同,泡沫既可以吸收微波,又可以将其反射,但在一定的条件下是可以进行测量的。 |
测量范围超出的动作
当测量范围超出时,仪表输的出为22mA电流。
雷达物位计的电气连接
两线制
HART通信的最小负载:250Ω
电缆入口:M20×1.5,内设极性反接,射频干扰,及尖峰过压的保护电路。