一、表面形貌仪的介绍:
表面形貌仪采用的白光共聚焦技术,Z高扫描速度可达1m/s,可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试,具有测量精度高,速度快,重复性好的优点,测量不受样品反射率和光的影响,测量简单,可用于测量大尺寸样品,如透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛光、粗糙材料等,主要应用于半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料,光学元件、陶瓷和先进材料的研发。
二、测量原理:
低相干白光同时照射样品和参考平面,被样品和参考平面反射的两束白光发生干涉后由阵列式CMOS探测器接收,由于探测器直接与信号处理芯片(Smart Pixel技术)连接,所以阵列上每个像素点的信号都在芯片中完成锁相放大,背景信号补偿和结果计算输出,成像于计算机就实现了样品表面的快速三维形貌测量。
三、在工业领域的应用:
食品安全在线检测。